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标题: 可靠性测试之：高低温储存(HTS)(LTS) [打印本页]

作者: 888888 时间: 2021-6-30 10:24
标题: 可靠性测试之：高低温储存(HTS)(LTS)
High Temp. Storage (HTS)
Test condition: Ta = Tamax+25 °C=80 °C
持续时间：1000h

Low Temp. Storage (LTS)
Test condition: Test condition: Tamin = -20 °C
持续时间：1000h

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