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› 可靠性测试之:高低温储存(HTS)(LTS)
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发表于 2021-6-30 10:24:43
可靠性测试之:高低温储存(HTS)(LTS)
High Temp. Storage (HTS)
Test condition:Ta = Tamax+25 °C=80 °C
持续时间:1000h
Low Temp. Storage (LTS)
Test condition:Test condition:Tamin = -20 °C
持续时间:1000h
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